• 剩下心房住宅时间[时间范围：转移访问导管和护套的访问]
  左心房仪器的时间
• 电压映射时间[时间范围：过程]
  执行左心房的3D电解图和高密度电压映射所需的时间。
• 总RF时间[时间范围：过程]
  所有执行的射频应用（RF）应用的时间
• RF应用程序的总数[时间范围：过程]
  在过程中执行的所有RF应用程序的数量
• X射线时间[时间范围：过程]
  荧光镜检查的总时间
• 并发症[时间范围：12个月]
  手术相关的并发症和所有并发症以及12个飞蛾随访的所有并发症，如下：心脏填塞/穿孔[是/否]，中风/TIA（短暂性缺血性攻击）[是/否]，食管损伤（穿孔/瘘管）[是的/no]，死亡（程序相关，一年随访）[是/否]，茎pop [是/否]，导管char [是/否]，phrenic神经麻痹[是/否]，PV狭窄需要干预[是/否]，胃肠道出血或胃肠道投诉[是/否]，需要围围骨性的起搏器植入[是/否]，需要干预的血管访问并发症[是/否]，无需干预的血管访问并发症[是/否需要干预[是/否]，，
• 由于患者抱怨的疼痛而导致的停止RF应用的数量[时间范围：程序]
  评估程序痛苦的替代物
• 后续30年代[时间范围：过程]
  缺乏任何心律失常（AR）定义为AF和 /或心房心动过速（AT）和 /或心房颤动（AFL）的任何记录的复发（AFL）

• 剩下心房住宅时间[时间范围：转移访问导管和护套的访问]
  左心房仪器的时间
• 电压映射时间[时间范围：过程]
  执行左心房的3D电解图和高密度电压映射所需的时间。
• 总RF时间[时间范围：过程]
  所有执行的射频应用（RF）应用的时间
• RF应用程序的总数[时间范围：过程]
  在过程中执行的所有RF应用程序的数量
• X射线时间[时间范围：过程]
  荧光镜检查的总时间
• 并发症[时间范围：12个月]
  过程相关并发症和所有并发症都有12个飞蛾的随访
• 由于患者抱怨的疼痛而导致的停止RF应用的数量[时间范围：程序]
  评估程序痛苦的替代物
• 后续30年代[时间范围：过程]
  缺乏任何心律失常（AR）定义为AF和 /或心房心动过速（AT）和 /或心房颤动（AFL）的任何记录的复发（AFL）

心房颤动（AF）消融是最常见的射频射频（RF）消融，通常与有意识的患者的较长的程序时间和疼痛的感觉有关。手术过程中的长时间辐射暴露使患者和操作员面临恶性和遗传异常的风险。诸如无症状的脑病变，打棉条，穿孔以及心律不齐的复发等并发症与更长的消融时间有关。

高功率，较短的射频射频消融（HPSDRFA）似乎是房颤（AF）的一种新颖概念（AF），但有意识的患者中存在稀缺数据。病变侧指数（LSI）值与肺静脉分离（PVI）病变的耐用性有关。

我们假设基于病变侧指数的HPSDRFA应用（LSI；其与肺静脉隔离（PVI）病变的耐用性相关，这些耐久性不如缩短程序时间的安全性和有效性，并且对A的安全性和有效性不如标准方法，并且对于A病人。

• 标准RF
  带有30瓦（30W）的RF功率消融，后壁上有25瓦（25W）
  干预：其他：房颤的RF消融
• 高RF 40W（40瓦）
  带有40瓦（40W）的RF功率消融
  干预：其他：房颤的RF消融
• 高RF 50W（50瓦）
  带有50瓦（50W）的RF功率消融
  干预：其他：房颤的RF消融

• Calkins H，Kuck KH，Cappato R，Brugada J，Camm AJ，Chen SA，Crijns HJ，Damiano RJ JR，Davies DW，Dimarco J，Edgerton J，Ellenbogen K，Ezekekowitz MD Y，Jackman W，Jalife J，Jais P，Kalman J，Keane D，Kim YH，Kirchhof P，Klein G，Kottkamp H，Kumagai K，Kumagai K，Lindsay BD，Mansour M，Mansour M，Marchlinski FE，McCarthy PM，Mont JL，Mont JL，Morady F，Morady F，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，， Nademanee K，Nakagawa H，Natale A，Nattel S，Packer DL，Pappone C，Prystowsky E，Raviele A，Raviele A，Reddy V，Ruskin JN，Shemin RJ，Tsao HM，Tsao HM，Wilber D.和心房颤动的手术消融：针对患者选择，程序技术，患者管理和随访，定义，终点和研究试验设计的建议。欧洲。 2012年4月； 14（4）：528-606。 doi：10.1093/欧洲/EUS027。 Epub 2012 3月1日。
• Kirchhof P，Benussi S，Kotecha D，Ahlsson A，Atar D，Casadei B，Castei B，CastelláM，Diener HC，Heidbuchel H，Hendriks J，Hindricks J，Hindricks G，Manolis AS，Oldgren J，Oldgren J，Allexandru Popescu B，Schotten U，Schotten U，Van Putte B，Van Putte B，，Van Putte B，，Van Putte b，，van Putte b，，，van Putte b，，，van Putte b，，，van putte B，， VARDAS P. 2016 ESC管理指南与EACTS合作制定了房颤的管理指南。 Rev ESP Cardiol（工程）。 2017年1月； 70（1）：50。 doi：10.1016/j.rec.2016.11.033。英式西班牙语。 Erratum in：Rev ESP Cardiol（Engl ed）。 2017年11月； 70（11）：1031。
• Galeazzi M，Ficili S，Dottori S，Elian MA，Pasceri V，Venditti F，Russo M，Lavalle C，Pandozi A，Pandozi C，Pandozi C，Santini M.由于放射性频率导管在左Atrium的放射性频率导管造成的食管升温期间的疼痛感。 J间隔卡电生理学。 2010年3月; 27（2）：109-15。 doi：10.1007/s10840-009-9447-y。 Epub 2009 11月27日。
• Aryana A，Heist EK，D'Avila A，Holmvang G，Chevalier J，Ruskin JN，Mansour MC。射频消融的疼痛和解剖位置，作为肺静脉分离过程中食管温度升高的预测指标。 J心脏电性电生理学。 2008年1月； 19（1）：32-8。 Epub 2007年9月24日。
• Patel PJ，Padanilam BJ。高功率短期消融：更好，更安全，更快？ J心脏电性电生理学。 2018年11月； 29（11）：1576-1577。 doi：10.1111/jce.13749。 EPUB 2018 10月25日。
• Winkle RA，Mohanty S，Patrawala RA，Mead RH，Kong MH，Engel G，Salcedo J，Trivedi CG，Gianni C，Jais P，Natale A，Day JD。在短持续时间内使用高功率（45-50 W）的并发症率低，用于房颤消融。心节奏。 2019年2月; 16（2）：165-169。 doi：10.1016/j.hrthm.2018.11.031。

纳入标准：

• 有症状的非浮力AF患者
• 年龄：18-85，左心房的第一个程序，
• 在左心房中排除血栓，左心庭附属物，
• 左心室射血分数> 55％

排除标准：

• 年龄低于18岁或以上的年龄，
• 左心室射血分数<55％，
• 左心房的先前程序，
• 瓣膜AF

• 剩下心房住宅时间[时间范围：转移访问导管和护套的访问]
  左心房仪器的时间
• 电压映射时间[时间范围：过程]
  执行左心房的3D电解图和高密度电压映射所需的时间。
• 总RF时间[时间范围：过程]
  所有执行的射频应用（RF）应用的时间
• RF应用程序的总数[时间范围：过程]
  在过程中执行的所有RF应用程序的数量
• X射线时间[时间范围：过程]
  荧光镜检查的总时间
• 并发症[时间范围：12个月]
  手术相关的并发症和所有并发症以及12个飞蛾随访的所有并发症，如下：心脏填塞/穿孔[是/否]，中风/TIA（短暂性缺血性攻击）[是/否]，食管损伤（穿孔/瘘管）[是的/no]，死亡（程序相关，一年随访）[是/否]，茎pop [是/否]，导管char [是/否]，phrenic神经麻痹[是/否]，PV狭窄需要干预[是/否]，胃肠道出血或胃肠道投诉[是/否]，需要围围骨性的起搏器植入[是/否]，需要干预的血管访问并发症[是/否]，无需干预的血管访问并发症[是/否需要干预[是/否]，，
• 由于患者抱怨的疼痛而导致的停止RF应用的数量[时间范围：程序]
  评估程序痛苦的替代物
• 后续30年代[时间范围：过程]
  缺乏任何心律失常（AR）定义为AF和 /或心房心动过速' target='_blank'>心动过速（AT）和 /或心房颤动（AFL）的任何记录的复发（AFL）

• 剩下心房住宅时间[时间范围：转移访问导管和护套的访问]
  左心房仪器的时间
• 电压映射时间[时间范围：过程]
  执行左心房的3D电解图和高密度电压映射所需的时间。
• 总RF时间[时间范围：过程]
  所有执行的射频应用（RF）应用的时间
• RF应用程序的总数[时间范围：过程]
  在过程中执行的所有RF应用程序的数量
• X射线时间[时间范围：过程]
  荧光镜检查的总时间
• 并发症[时间范围：12个月]
  过程相关并发症和所有并发症都有12个飞蛾的随访
• 由于患者抱怨的疼痛而导致的停止RF应用的数量[时间范围：程序]
  评估程序痛苦的替代物
• 后续30年代[时间范围：过程]
  缺乏任何心律失常（AR）定义为AF和 /或心房心动过速' target='_blank'>心动过速（AT）和 /或心房颤动（AFL）的任何记录的复发（AFL）

心房颤动（AF）消融是最常见的射频射频（RF）消融，通常与有意识的患者的较长的程序时间和疼痛的感觉有关。手术过程中的长时间辐射暴露使患者和操作员面临恶性和遗传异常的风险。诸如无症状的脑病变，打棉条，穿孔以及心律不齐的复发等并发症与更长的消融时间有关。

高功率，较短的射频射频消融（HPSDRFA）似乎是房颤（AF）的一种新颖概念（AF），但有意识的患者中存在稀缺数据。病变侧指数（LSI）值与肺静脉分离（PVI）病变的耐用性有关。

我们假设基于病变侧指数的HPSDRFA应用（LSI；其与肺静脉隔离（PVI）病变的耐用性相关，这些耐久性不如缩短程序时间的安全性和有效性，并且对A的安全性和有效性不如标准方法，并且对于A病人。

• 标准RF
  带有30瓦（30W）的RF功率消融，后壁上有25瓦（25W）
  干预：其他：房颤的RF消融
• 高RF 40W（40瓦）
  带有40瓦（40W）的RF功率消融
  干预：其他：房颤的RF消融
• 高RF 50W（50瓦）
  带有50瓦（50W）的RF功率消融
  干预：其他：房颤的RF消融

• Calkins H，Kuck KH，Cappato R，Brugada J，Camm AJ，Chen SA，Crijns HJ，Damiano RJ JR，Davies DW，Dimarco J，Edgerton J，Ellenbogen K，Ezekekowitz MD Y，Jackman W，Jalife J，Jais P，Kalman J，Keane D，Kim YH，Kirchhof P，Klein G，Kottkamp H，Kumagai K，Kumagai K，Lindsay BD，Mansour M，Mansour M，Marchlinski FE，McCarthy PM，Mont JL，Mont JL，Morady F，Morady F，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，，Morady F，， Nademanee K，Nakagawa H，Natale A，Nattel S，Packer DL，Pappone C，Prystowsky E，Raviele A，Raviele A，Reddy V，Ruskin JN，Shemin RJ，Tsao HM，Tsao HM，Wilber D.和心房颤动的手术消融：针对患者选择，程序技术，患者管理和随访，定义，终点和研究试验设计的建议。欧洲。 2012年4月； 14（4）：528-606。 doi：10.1093/欧洲/EUS027。 Epub 2012 3月1日。
• Kirchhof P，Benussi S，Kotecha D，Ahlsson A，Atar D，Casadei B，Castei B，CastelláM，Diener HC，Heidbuchel H，Hendriks J，Hindricks J，Hindricks G，Manolis AS，Oldgren J，Oldgren J，Allexandru Popescu B，Schotten U，Schotten U，Van Putte B，Van Putte B，，Van Putte B，，Van Putte b，，van Putte b，，，van Putte b，，，van Putte b，，，van putte B，， VARDAS P. 2016 ESC管理指南与EACTS合作制定了房颤的管理指南。 Rev ESP Cardiol（工程）。 2017年1月； 70（1）：50。 doi：10.1016/j.rec.2016.11.033。英式西班牙语。 Erratum in：Rev ESP Cardiol（Engl ed）。 2017年11月； 70（11）：1031。
• Galeazzi M，Ficili S，Dottori S，Elian MA，Pasceri V，Venditti F，Russo M，Lavalle C，Pandozi A，Pandozi C，Pandozi C，Santini M.由于放射性频率导管在左Atrium的放射性频率导管造成的食管升温期间的疼痛感。 J间隔卡电生理学。 2010年3月; 27（2）：109-15。 doi：10.1007/s10840-009-9447-y。 Epub 2009 11月27日。
• Aryana A，Heist EK，D'Avila A，Holmvang G，Chevalier J，Ruskin JN，Mansour MC。射频消融的疼痛和解剖位置，作为肺静脉分离过程中食管温度升高的预测指标。 J心脏电性电生理学。 2008年1月； 19（1）：32-8。 Epub 2007年9月24日。
• Patel PJ，Padanilam BJ。高功率短期消融：更好，更安全，更快？ J心脏电性电生理学。 2018年11月； 29（11）：1576-1577。 doi：10.1111/jce.13749。 EPUB 2018 10月25日。
• Winkle RA，Mohanty S，Patrawala RA，Mead RH，Kong MH，Engel G，Salcedo J，Trivedi CG，Gianni C，Jais P，Natale A，Day JD。在短持续时间内使用高功率（45-50 W）的并发症率低，用于房颤消融。心节奏。 2019年2月; 16（2）：165-169。 doi：10.1016/j.hrthm.2018.11.031。

纳入标准：

• 有症状的非浮力AF患者
• 年龄：18-85，左心房的第一个程序，
• 在左心房中排除血栓，左心庭附属物，
• 左心室射血分数> 55％

排除标准：

• 年龄低于18岁或以上的年龄，
• 左心室射血分数<55％，
• 左心房的先前程序，
• 瓣膜AF